基本属性
- 拼音字母ke ce shi xing she ji
- 拼音首字母kcsxsj
- 注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
扩展释义
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
可测试性设计是什么意思？专家解读
918学习网·汉语词语词典
2026-07-14 12:19:06
「可测试性设计」是汉语中常见词语。本文从读音、释义、出处等方面为您权威解读。拼音：kě cè shì xìng shè jì，注音：ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ。