基本属性
- 拼音字母gui yi hua tan ce lv
- 拼音首字母gyhtcl
- 注音符号ㄍㄨㄟ ㄧ ㄏㄨㄚ ㄊㄢ ㄘㄜ ㄌㄩ
扩展释义
归一化探测率(Normalized Detectivity)是光电探测器的主要性能指标之一,即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值,数值越大表示性能越好。
「归一化探测率」是汉语中常见词语。本文从读音、释义、出处等方面为您权威解读。拼音:guī yī huà tàn cè lǜ,注音:ㄍㄨㄟ ㄧ ㄏㄨㄚˋ ㄊㄢˋ ㄘㄜˋ ㄌㄩˋ。
归一化探测率(Normalized Detectivity)是光电探测器的主要性能指标之一,即比探测率。该指标描述的是探测器材料对弱光的探测能力。图片所示是几种常用探测器的归一化探测率值,数值越大表示性能越好。