基本属性
- 拼音字母ci te zheng dai
- 拼音首字母ctzd
- 注音符号ㄘ ㄊㄜ ㄓㄥ ㄉㄞ
扩展释义
次特征带(bicharacteristic strip)又名双特征带，是偏微分方程理论中的一个概念。对于一般的m阶线性偏微分算子P(x，Dx) ，这里P(x，Dx)是的多项式，其象征为P(x，ξ)，主象征为Pm(x，ξ)。为了方便，记t为x0，x= (x0，x1，...，xn)相应于以上结果是：对于超曲面有如果一个超曲面φ(x)=0(grad φ≠0)适合，则称它是P的特征超曲面。如果在(x，ξ)空间考虑，并视ξ为一向量，(x，ξ)就成为x空间中x点处的接触元素。这样，其解将称为P的次特征带，它在x空间的投影称为次特征曲线。一切适合于一定条件的特征超曲面都是由次特征曲线“织”成的。