基本属性
- 拼音字母shuan suo xiao ying
- 拼音首字母ssxy
- 注音符号ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ
扩展释义
闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
「闩锁效应」是汉语中常见词语。本文从读音、释义、出处等方面为您权威解读。拼音:shuān suǒ xiào yīng,注音:ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ。
闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。